Ключевые слова: patents, HTS, fabrication, buffer layers, microstructure, critical caracteristics, Jc/B curves, critical current density, angular dependence, YBCO
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.